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Hochauflösende Mikroskopie

Mithilfe der hochauflösenden Mikroskopie ist es uns möglich kleinste Strukturen unterhalb der optischen Auflösungsgrenze sichtbar zu machen.

Die Tech­ni­ken hoch­auf­lö­sen­de struk­tu­rier­te Be­leuch­tung (SR-SIM) und pho­to­ak­ti­vier­te Lo­ka­li­sa­ti­ons­mi­kro­sko­pie (PALM) sind mit unserem kon­fo­ka­lem La­ser Scan­ning Mi­kro­skop kombiniert. mehr...

Unser neuestes Instrument basiert auf der Technik: Stimulated Emission Depletion (STED)[1].

Mit dem System easy3D STED der Firma Abberior Instruments kann eine lateral Auflösung unterhalb von 25 nm und eine 3D-Auflösung von bis zu 60 nm erreicht werden.

Das Gerät beherrscht die Methoden pulsed-STED[2], gated-STED[3],[4] und RESCue STED[5]. Es ist das erste kommerziell erhältliche STED-Mikroskop mit MINFIELD-Technik[6].

3D STED
3D STED
© A. Ellrott / MPI MM

Technische Daten

Anregungslaser STED-Laser Detektion*
 
405 nm (cw, 50 mW)
  
---
  

 450/50 nm
 
440 nm (gepulst, 500 µW)
  
  595 nm
(gepulst, 1 W)
  

 509/22 nm
 
485 nm (gepulst, 1 mW)
  

 525/50 nm oder
  518 nm (gepulst, 300 µW)  

 545/24 nm
 
561 nm (gepulst, 300 µW)
  
  775 nm
(gepulst, 3 W)
  
 605/50 nm oder
   615/20 nm
 
640 nm (gepulst, 1 mW)
  
 685/70 nm

*single-photon-count­ing ava­lanche pho­to­di­ode (apd mod­ule)

 

Standort

Raum 2242, Tel. 931

Verantwortlich

Andreas Ellrott

Links

>> YouTube: S. Hell explains Superresolution and STED

Referenzen

1. Hell, S.W., J. Wichmann. (1994). Breaking the diffraction resolution limit by stimulated emission: Stimulated-emission-depletion fluorescence microscopy. Optics Letters. 19: 780–82. (doi:10.1364/OL.19.000780).
 2. Dyba, M., S. W. Hell. (2003). Photostability of a Fluorescent Marker Under Pulsed Excited-State Depletion through Stimulated Emission. Applied Optics. 42:5123–29.  (doi:10.1364/AO.42.005123). 
 3. Vicidomini, G., G. Moneron, K.Y. Han, V. Westphal, H. Ta, M. Reuss, J. Engelhardt, C. Eggeling, and S.W. Hell. (2011). Sharper low-power STED nanoscopy by time gating. Nat. Meth. 8:571–3. (doi:10.1038/nmeth.1624). 
 4. Moffitt, J.R., C. Osseforth, and J. Michaelis. (2011). Time-gating improves the spatial resolution of STED microscopy. Opt. Express. 19:4242–54. (doi:10.1364/OE.19.004242). 
 5. Staudt, T., A. Engler, E. Rittweger, B. Harke, J. Engelhardt, S.W. Hell, (2011). Far-field optical nanoscopy with reduced number of state transition cycles. Opt. Express. 19:5644–57. (doi:10.1364/OE.19.005644). 
6. Göttfert, F., T. Pleiner, J. Heine, V. Westphal, D. Görlich, S.J. Sahl, S.W. Hell. (2017). Strong signal increase in STED fluorescence microscopy by imaging regions of subdiffraction extent. Proc. Natl. Acad. Sci. USA. 114:2125-30. (doi:10.1073/pnas.1621495114).

 

 

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